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    下一代垂直Laue晶體定向系統(tǒng) 有三種配置可供選擇——垂直、水平和顆粒圖——光子科學(xué)背反射Laue系統(tǒng)允許實(shí)時(shí)晶體定向,精度低至0.1度。 單晶的電光特性強(qiáng)烈依賴于晶體取向。Laue工具從單晶中收集高分辨率的X射線衍射圖案,從而能夠以優(yōu)異的精度選擇正確的晶面。

    時(shí)間:2024-05-07型號(hào):LAUESYS
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    l 系統(tǒng)通過(guò)*的實(shí)時(shí)數(shù)字化背向散射記錄勞厄衍射圖案。系統(tǒng)中心的6.2mm直徑的孔允許X射線通過(guò)相機(jī)并照射到被測(cè)晶體。因?yàn)橄到y(tǒng)的快速讀出速率和低噪聲。相機(jī)可以實(shí)時(shí)曝光(在犧牲分辨率條件下),也可以延長(zhǎng)高達(dá)20分鐘的曝光時(shí)間(全分辨率條件下)

    時(shí)間:2024-05-07型號(hào):PSEL-LAUE
  • LAUESYS晶體定向儀
    LAUESYS晶體定向儀

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    時(shí)間:2024-05-07型號(hào):LAUESYS
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